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FLUKE
FLUKE
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Fluke-1777 전력품질분석기

  • 전력 및 전력 품질 매개변수를 자동으로 측정
  • 전원 품질 상태를 한 눈에 파악할 수 있어 빠른 문제 해결 가능
  • V/A/Hz, 전력, 급강하, 급상승 및 고조파 데이터를 쉽게 파악
  • 최대 8kV의 고속 과도 현상을 캡처
  • 외부 전원 없이 측정 회로에서 직접 전원 공급



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제품목록 온라인문의
입력 전압
입력 수 4개의 입력, 3상 및 PE에 참조된 중성(5개의 커넥터)
측정 범주 1000V CAT III / 600V CAT IV
최대 입력 전압 1000V rms/1000V dc(1700Vpk)
공칭 전압 범위 Wye 및 단상: 가변(50V – 1000V) 델타: 가변(100V – 1000V) 공칭 전압(VDIN) 100V – 690V에 대한 IEC 61000-4-30 ClassA 준수
입력 임피던스 P-P와 P-N 간 10MΩ, P-PE와 N-PE 간 5MΩ
대역폭 PQ 측정 시 DC에서 30kHz까지, 과도 전류 제외
분해능 24비트 동기 샘플링
샘플링 주파수 50/60Hz에서 80kS/s
배율 1:1, 센서 종류에 따라 가변가능
과도 전압
측정 범위 ±8kV
샘플링 속도 1MS/s, 20MS/s
대역폭 DC ~ 1 MHz
트리거 조정 가능 트리거 레벨 1.5 kHz를 초과 하는 고주파 성분에 대한 트리거
분해능 14비트 동기 샘플링
Aux 입력
17xx-AUX 어댑터와 유선 연결 입력 수 2
입력 범위 직접: 0V DC ~ ±10V DC, 0V ~ 1000V DC
입력 임피던스 직접: 2.92 MΩ
배율 형식: mx + b(게인 및 오프셋) 사용자 구성 가능
표시되는 단위 사용자 구성 가능(최대 8자, 예:°C, psi 또는 m/s)
데이터 획득 전압 및 전류
입력 기본 주파수 DC, 50/60Hz ±15%(42.5Hz … 57.5Hz, 51Hz … 69Hz)
토폴로지 1-φ, 1-φ IT, 분상, 3-φ 델타, 3-φ 와이 IT, 3-φ 아론/블론델(2요소 델타), 3-φ 델타 오픈 레그, 3-φ 하이 레그 델타
데이터 저장 32GB microSD 카드(설치됨)
메모리 크기 8주, 1분 간격, 100개 이벤트 설정 시 일반 로깅 세션 10개 저장. 가능한 로깅 세션 및 로깅 기간은 사용자의 요구 사항에 따라 달라집니다.
실시간 정확도 내부: 3ppm(0.26초/일, 매월 8초), NTP(인터넷 시간): 인터넷 대기 시간에 따라 일반적으로 UTC에 대해 절대 0.1초 미만, GPS: UTC에 대해 절대 1ms 미만

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